تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۴,۷۳ ثانیه یافت شد.

1. Rapid reliability assessment of VLSICs

المؤلف: / A.P. Dorey ... (et al.)

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Reliability

رده :

TK

7874

.

R37

1990

»
1
«

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها